| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Titre : | What can we learn from second analyses ? (2008) |
| Auteurs : | / Kathleen A. LYON |
| Dans : | Journal of the American Psychoanalytic Association (vol. 56, n° 3, 2008) |
| Article en page(s) : | pp. 957-966 |
| Note générale : | Rapport de la conférence de l'American Psychoanalytic Association ; New-York ; 21 janvier 2007. |
| Langues: | Anglais |
| Mots-clés : | Psy reprises tranches ; Processus psychanalytique |
Exemplaires (2)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| 20007335 | K11-4 | Revue | BSF Paris | ψ Réserve : Périodiques | Consultation sur place |
| 07005412 | ARM-2 | Revue | CPRS Genève | Bib. CPRS | Consultation sur place |
